हम मिनी-एलईडी ऑप्टिकल निरीक्षण मशीन क पांच प्रमुख संकेतक क मूल्यांकन केलहुं।

सीधा शब्दऽ म॑ कहलऽ जाय त॑ ई सबसें छोटऽ दोष आकार छै जेकरा ई मशीन विश्वसनीय रूप स॑ पता लगाय सकै छै आरू पहचानी सकै छै, जेना कि 1-माइक्रोन कण या खरोंच । मिनी-एलईडी क्षेत्र म॑ जेना-जेना चिप केरऽ आकार 100μm या 50μm स॑ भी कम होय जाय छै, ई मीट्रिक निचला रेखा छै ।

कारण एकर सीधा संबंध अहां के दोष पता लगाबय के दर सं अछि. जे उपकरण 100μm चिप पर 3μm दोष कें भरोसेमंद रूप सं पता नहि लगा सकय छै, ओ बाद कें प्रक्रियाक कें लेल संभावित समस्या छोड़तय, जे अंततः अंतिम उत्पाद मे चमकदार आ गहरे रंग कें धब्बा पैदा करतय आ उपज दर कें बर्बाद करतय.

एकर प्रतिनिधित्व आमतौर पर यूपीएच द्वारा कैल जायत छै, जे पैनल या चिप कें संख्या कें मतलब छै जेकर निरीक्षण प्रति घंटा कैल जा सकय छै. एकर सीधा संबंध अहां कें उत्पादन लाइन चक्र कें समय आ क्षमता सं छै.

गति पाइ अछि, मुदा तखने जखन गुणवत्ता बनल रहय। जे उपकरण अत्यंत उच्च यूपीएच (इकाई प्रति घंटा) कें पीछा करय मे सटीकता कें बलिदान देयत छै या झूठा सकारात्मक दर कें काफी बढ़ावा दयत छै, ओ अहां कें डाउनस्ट्रीम निरीक्षण प्रक्रिया पर भारी पड़तय, जे अंततः समग्र दक्षता कें कम करय कें कारण बनतय.

हमर अनुभव : १.

सही दक्षता उच्च-गुणवत्ता वाला उत्पादन मे निहित अछि. यूपीएच (यूनिट प्रति घंटा) कनि कम वाला उपकरण कें टुकड़ा मुदा जे स्थिर आ विश्वसनीय छै, प्रभावशाली विनिर्देश वाला उपकरण सं कहीं बेहतर छै मुदा जे अक्सर अत्यधिक झूठा अलार्म कें कारण डिबगिंग कें लेल बंद भ जायत छै, अहां कें डिलीवरी शेड्यूल कें गारंटी कें मामला मे. मोन राखू, उत्पादकता कें गणना समग्र प्रदर्शन कें आधार पर कैल जायत छै.

पता लगावय कें दर सही दोषक कें पहचान करय कें क्षमता कें संदर्भित करयत छै; गलत अलार्म दर कोनों नीक उत्पाद कें दोषपूर्ण कें रूप मे गलत वर्गीकृत करय कें संभावना कें संदर्भित करयत छै. मिनी-एलईडी कें जटिल संदर्भ मे, इ दूनू कारक कें संतुलन बनानाय एल्गोरिदम कें क्षमता कें गंभीर रूप सं परीक्षण करयत छै.

उच्च झूठा पॉजिटिव दर कें मतलब छै कि अहां कें समीक्षा कें लेल बेसि जनशक्ति आवंटित करय कें जरूरत छै, जेकरा सं लागत बढ़य छै. दोसर दिस बेसी झूठा नकारात्मक दर के मतलब अछि जे जोखिम छूटि रहल अछि. एकटा उत्कृष्ट एल्गोरिदम एहि दुनू कारक के बीच सबसँ नीक संतुलन बनाबैत अछि ।

हमर अनुभव : १.

स्थिर छवि के उपयोग करय वाला प्रदर्शन सब धुआं आ दर्पण छै. लगातार गतिशील परीक्षण ही सही मायने म॑ कोनो एल्गोरिदम केरऽ वास्तविक क्षमता क॑ उजागर करै छै । हम ओपन एल्गोरिदम आर्किटेक्चर वाला उपकरण पसंद करैत छी जे हमरा अपन विशिष्ट निर्माण प्रक्रिया के आधार पर दोष मॉडल के प्रशिक्षित आ अनुकूलित करय के अनुमति दैत अछि. मतलब हमर प्रोडक्शन लाइन के संग संग उपकरण बढ़ि सकैत अछि आ विकसित भ सकैत अछि.

ई डिवाइस केरऽ संवेदी कोर छै, जेकरा म॑ कैमरा रिजोल्यूशन, लेंस केरऽ गुणवत्ता, आरू विशेष रूप स॑ प्रकाश प्रणाली-जे एक समान चमक आरू रंग पता लगाबै के साथ-साथ रोशनी परीक्षण प्राप्त करै के आधार छै ।

मिनी-एलईडी कें बहुत सं दोष, विशेष रूप सं जे प्रकाशमान प्रदर्शन सं संबंधित छै, तखनहि पता लगाएल जा सकय छै जखन डिवाइस चालू छै. चिप इलेक्ट्रोड, मिलाप जोड़ के गुणवत्ता, आरू प्रकाशमान एकरूपता के स्पष्ट रूप स॑ अवलोकन लेली एक समान, स्थिर, आरू बहु-कोण प्रोग्रामेबल प्रकाश प्रणाली बहुत महत्वपूर्ण छै.

हमर अनुभव : १.

खाली कैमरा ब्रांड के नहि देखू। प्रकाश स्रोत केरऽ डिजाइन गुणवत्ता आरू लेंस के साथ एकरऽ संगतता अक्सर निर्माता केरऽ तकनीकी विशेषज्ञता के बारे म॑ अधिक जानकारी दै छै । हम एहन उपकरण देखलहुं जे सब निरीक्षणक लेल मात्र एकटा प्रकाश समाधानक उपयोग करैत अछि, आ पेशेवर उपकरण सेहो देखलहुं जे विभिन्न दोषक लेल विशिष्ट प्रकाश विन्यास डिजाइन करैत अछि ; परिणाम बहुत अलग अछि।

अइ मे शामिल छै की ऑपरेटिंग इंटरफेस सहज छै, की परीक्षण प्रोटोकॉल कें निर्माण आ प्रबंधन सुविधाजनक छै, आ, अइ सं बेसि महत्वपूर्ण बात इ छै की इ परीक्षण डेटा कें भारी मात्रा मे अंतर्दृष्टि मे बदल सकय छै जे उत्पादन कें मार्गदर्शन करय छै.

अंततः उपकरण मानव उपयोग के लेल अछि। जटिल सॉफ्टवेयर डिबगिंग कें दौरान इंजीनियरक कें कुंठा कें कगार पर पहुंचा सकय छै. तथापि, शक्तिशाली डाटा विश्लेषण क्षमता गुणवत्ता नियंत्रण कें पोस्ट-उत्पादन जांच सं सक्रिय प्रक्रिया अनुकूलन मे स्थानांतरित कयर सकय छै.